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產品資料

惠普4192A阻抗分析儀

產品型號：

簡介：

惠普4192A阻抗分析儀對諸如電信濾波器-音頻/視頻電子電路之類的器件和基礎電子元件完成網絡分析和阻抗分析，對浮點接地器件也可加以測試。

惠普4192A阻抗分析儀 的詳細介紹

Agilent/HP4192A低頻阻抗分析儀對諸如電信濾波器-音頻/視頻電子電路之類的器件和基礎電子元件完成網絡分析和阻抗分析。對浮點接地器件也可加以測試。測量信號（23°~±5℃）
頻率范圍 5Hz~13MHz
頻率步進 0.01Hz(5Hz~10kHz);0.01Hz(10kHz~100kHz);
0.1Hz(100kHz~1MHz),1Hz(1MHz~13MHz)
頻率精度 ±50ppm
振蕩器電平 5mV~1.1Vrms可變，50Ω（幅度-相位測量）或開路（阻抗測量）
振蕩器電平步進 1mV(5mV~100mV);5mV(100mV~1.1V)
電平監視（阻抗測量）：可監視穿通電流或端電壓取樣
控制：通過前面板或agilent-IB進行點頻和掃頻測量

測量方式
定點測量在規定的頻率（或直流偏壓）上進行
掃頻測量從起始頻率到終止頻率（或直流偏壓）的手動或自動掃描（以選擇的步進頻率或直流偏壓）
掃描方式線性或對數（只是對頻率）
*大輸出電壓 ±1V
關鍵狀態儲存 5種測量狀態設置可以在任何時間被存儲和調用
agilent-IB數據輸出和遙控標準
自測試自動自我測量
觸發內部，外部、手動或agilent-IB

幅度—相位測量
測量參數  相對幅度B-A（dB）和相位Q（度或弧度），B-A和群延時；**幅度A（dBm或dBV)或B（dBm或dBV)
和所有參數的偏移（Δ，Δ%）
參考幅度 0dBV=1Vrms,0dBm=1mW(50Ω負載）
振蕩器輸出電阻： 50Ω
通道A和B：輸入阻抗：1MΩ±2%，并聯電容，25pF±5pF

測量精度：（23±5℃）：30分鐘預熱后，在BNC未知終端上的規定值
B-A（相對幅度）和（θ相位）測量：±0.01dB,±0.05°(-20~0.8dBV輸入，頻率為100~10kHz時）
A，B（**幅度）測量： ±0.4dB(-50~0.8dBV輸入，頻率為100~1MHz時

阻抗測量
測量參數 |Z|-θ,|Y|-θ,R-X,G-B,L-D,Q,R,G,C，D,Q,R,G和所有參數的偏移（Δ，Δ%）
顯示 4
1/2 位，*大顯示為12999計數，對L和C是19999
電路方式串聯等效電路和并聯等效電路，可自動選擇
自動調零通過按鈕操作使由測試夾具殘余阻抗引起的讀數偏差自動規格化（在點頻上）
測量范圍和精度（23°±5℃）當振蕩器電平大于0.1V以及當完成自動調零時，在30分預熱后，在未知終端上的規定值（測試速度：正常或平均）下面給出的精度只在測量得的值等于每個測量范圍的滿刻度時才正確

|Z|-θ，R-X，|Y|-θ，G-B測量：
參數測量范圍基本精度
|Z|、R、X 1.0000Ω~1.000MΩ 0.15%
|Y|、G、B 10.000μS~10.00S 0.15%
θ -180.00°~+180.00° 0.08°
R精度（D≥10）;X精度（D<1)
G精度（D>1);X精度（D≤0.1)
L-D?Q,C-D?Q測量：
參數測量范圍* 基本精度
L 0.01nH~1000H 0.27%
C 1.0000pF~199**mF 0.15%
D（1/Q） 0.0001~19.999 0.001(C測量）
0.003(L測量）

*除D（I/Q）外，隨測量頻率變化
*超過100mF時C的精度未作規定

內部直流偏置：標準（只適于阻抗測量）
電壓范圍 -35V~+35V，10mV步進
調節精度（23°±5℃）調節值的5%+5mV
偏置控制：利用面板控制或Agilent-IB進行點頻和掃頻

一般指標
測量時間（高速方式）
B-A和θ，A或B： 88~127ms(≥400Hz)
阻抗參數： 58~91ms(≥1kHz)
測試電平監視范圍（阻抗測量）
電壓： 5mV~1.1V
電流： 1μA~11mA
工作溫度：0°~55℃,在40℃上相對濕度±95%
電源： 100,120,220V±10%,240V+5%~-10%,48~66Hz
,150V Armax
尺寸： 425.5mm(寬）*235mm（高）*615mm(長）（16.5英寸*9英寸*22.6英寸）
重量：約19kg(41.9磅）
供應的附件和元件 Agilent16047A測試夾具，Agilent
11048C 50Ω饋通線終端（2個），功分器，Agilent11170A BNC電纜（2根），BNC適配器

主要技術資料
Agilent4192A低頻阻抗分析儀資料，p/n5952-8896

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惠普4192A阻抗分析儀對諸如電信濾波器-音頻/視頻電子電路之類的器件和基礎電子元件完成網絡分析和阻抗分析，對浮點接地器件也可加以測試。

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